PROGRAMUL DE STUDIU: ELECTRONICĂ APLICATĂ [301484]

UNIVERSITATEA DIN ORADEA

FACULTATEA DE INGINERIE ELECTRICĂ ȘI TEHNOLOGIA INFORMAȚIEI

PROGRAMUL DE STUDIU: ELECTRONICĂ APLICATĂ

FORMA DE ÎNVĂȚĂMÂNT: ZI

Lucrare de licență

COORDONATOR ȘTIINȚIFIC

PROF.DR.ING.CORNELIA GORDAN

ABSOLVENT: [anonimizat]Á[anonimizat]

2016

UNIVERSITATEA DIN ORADEA

FACULTATEA DE INGINERIE ELECTRICĂ ȘI TEHNOLOGIA INFORMAȚIEI

PROGRAMUL DE STUDIU: ELECTRONICĂ APLICATĂ

FORMA DE ÎNVĂȚĂMÂNT: ZI

Proiectarea unui adaptor de test utilizat pentru testarea plăcilor electronice

COORDONATOR ȘTIINȚIFIC

PROF.DR.ING.CORNELIA GORDAN

ABSOLVENT: [anonimizat]Á[anonimizat]

2016

CUPRINS

INTRODUCERE

Această lucrare de licență din domeniul ingineriei electronice și telecomunicațiilor are ca titlu „Proiectarea unui adaptor de test utilizat pentru testarea plăcilor electronice” prezent în industria electronică.L-[anonimizat] s-a dat ocazia studierea acestuia în timpului anului universitar din Oradea mai exact perioada practicii de vară anul 2014 și 2015 luna Iulie la companii multinaționale de exemplu: „[anonimizat], Celestica”.

Adaptoarele de test sunt defapt folosite pentru a [anonimizat],[anonimizat] ,[anonimizat].

Un dispozitiv de testare este un astfel de dispozitiv special conceput pentru testarea circuitelor electronice sau a [anonimizat], medicină, aeronautică, în domeniul militar etc. [anonimizat].

Această lucrare a fost realizată cu ajutorul companiei Connectronics Romania sub supravegherea domnului inginer Andrei Kecseg și inginerul Urdea Bogdan cu susținerea prof.dr.ing.Cornelia Gordan.

În primul capitol se dorește punerea în evidență tipurilor de teste actuale folosit pentru realizarea adaptoarelor de test utilizat pentru testarea plăcilor electronice.

În capitolul doi se pune atenția asupra fabricanților de adaptoare de teste utilizate în industria electronică.[anonimizat],specificații,dimensiunile ale acestor adaptoare utiliziate în prezent.

[anonimizat] a lucrării cu tema adaptor de test utilizat pentru testarea plăcilor electronice.[anonimizat],[anonimizat] N.I.

În ultimul capitol va cuprinde debugul care va avea rol de deparea în cazul în care există anumite probleme tehnice legate de adaptor de test utilizat pentru testarea plăcilor electronice.

Lucrarea de licentă se încheie cu concluziile și referințele bibliografice.

CAPITOLUL I.TIPURI DE TESTE A UNUI ADAPTOR DE TEST

I.1 Testul funcțional- (FCT)

FCT – Testul funcțional face asigurarea calității QA-(Quality assurance) [anonimizat]. [anonimizat] a se asigura că aceasta este conformă cu toate cerințele. Testare funcțională este un mod de a verifica software-ul pentru a se asigura că dispune de toate funcționalitățile necesare care este specificat în cerințele sale funcționale.

Testul de funționare este o bucățică din sistemul total care asigură funcționalitatea sistemului astfel testul diferă de la un sistem la un alt sistem de testare.Aceasta verifică un program prin specificațiile sau parametriilor ale schiței documentului date ale acestora în timp ce sistemul mecanic cu conexiunile,legăturile testează placa cu componente electronice aceasta defapt validează un program prin verificarea aceastora în raport cu cerințele utilizatorului în concordanță cu specificația dată. [1]

I.1.1 Avantajele testului funcțional:

Identificarea defectelor funcționale într-un ansamblu de placă de pe circuit imprimat

Evaluarea funcționalității în timp ce sunt aplicate teste care sunt de tip tensiune de alimentare sau de curent

Evaluarea funcționalității DUT – (dispozitiv sub test) în timp ce sunt aplicate pe intrare unei game de amplitudini de tensiune sau de curent

Determinarea consumului de energie în timpul funcționării DUT

Descoperirea problemei cu circuite analogice, cum ar fi:

Frecvență de oscilator greșit

Tăierea semnalului analogic / denaturare

Câștig amplificator sau probleme de lățime de bandă

Conducție de curenți de ieșire de putere

Probleme de adaptare la potențiometru

Dezvăluind probleme cu circuitele digitale, cum ar fi:

Semnal de sincronizare (de proiectare sau legate de componenta)

Probleme de comunicare (Ethernet, DeviceNet, Serial, etc) [2]

I.1.2 Dezavantajele testului funcțional:

Programele de testare necesită o înțelegere aprofundată a performanței DUT-(device under test), programarea astfel costurile sunt de obicei mai mari decât la ICT dar, grafica de programare reduce semnificativ costurile de punere în aplicare ale testelor funcționale.

FCT-urile utilizeaza adesea instrumente de mare viteză pentru a caracteriza semnale de la DUT. Echipamente de înaltă viteză este mai scump decât instrumentele destinate pentru măsurători de viteze scăzute.Testarea prin conectori poate provoca probleme de fiabilitate poate să apară uzuri. [2]

I.2 Testul ICT (In circuit test)

În testul de circuit este un exemplu de testare cu o sondă electrică care testează o placă populată de componente electronice adică un circuit imprimat (PCB), verificarea fizică a scurtciruitelor sau a deschideri componentelor nelipite sau lăsate în aer,rezistențe, condensatoare, și alte componente electronice care va arăta dacă a fost corect ansamblate în timpul procesului de producție.Acesta poate fi realizată pe un pat prin vârfuri de încercare de tip cuie printr-un echipament de testare specializat. [3]

I.2.1 Conceptul de bază de testare în-circuit-(ICT):

În testul de circuit echipamente oferă o formă utilă și eficientă a testului pentru placă de circuit imprimat măsurănd fiecare componentă la rândul său, pentru a verifica dacă acesta este în vigoare cu parametrii specificați și cu valoariile corecte. Ca cele mai multe defecte de pe o placă derivă din procesul de fabricație și de obicei, provin din probleme legate de scurt-circuit, circuite deschise sau componente montate greșit, această formă de testare înlătură cele mai multe ori problemele apărute pe o placă electronică. Acestea pot fi verificate cu ușurință folosind măsurători simple de rezistență, de capacitate, și, uneori, inductivității între două puncte de pe placa de circuit.

Cănd un intergrat cade problema cea mai majoră este descărcarea electrostatică ESD din cauza că conexiunile acestora comunică cu mediul extern.Toate aceste căderi sau defecte putând fi eliminat cu ajutoarelor adaptoarelor de test testarea fiind în circuit. Astfel anumite testere de circuit au funcționalitatea de testa corect circuite integrate oferind un grad de confidențialitate pentru fabricarea și operare în mod corect.În cazul natural testul de circuit nu are ca rezultat funționare corectă a circuitului imprimat din potrivă este dat de faptul că a fost corect proiectat cerințelor după care asamblat în mod corespunzător ce oferă rezultatul funcționării corecte în parametrii optim.

Testerul cu pat de cuie „bed of nails” este defapt un dispozitiv tradițional de testare dedicat plăciilor electronice care are numeroase pinuri ca și un vârf de ac inserat intr-o gaură care este format din țesătură de sticlă din foaie epoxidică fenolic laminată cu (G-10) astfel utilizănd pat cu cuie care să întră în contact cu puncte de test de pe placă cu circuitul imprimat de asemenea aceste ace sunt conectate la capătul lor cu fire subțire cu scopul pentru obținerea valorilor de măsurare.

Patul cu cuie sunt defapt dispozitive ce conțin o serie mici de ace sau cuie cu diferite forme și dimensiuni aflat pe vârful lor,astfel fiecare făcând contact cu un nod în circuitul de DUT „dispozitiv sub test”.

Prin apăsarea verticală după prinderea mânerului adică perpendicular, paralelă de sus în jos a dispozitivului sub test „Device under test” spre patul de cuie cu contacte. Fiind un proces rapid și simultan, făcând contact sau legătură electrică directă cu sute sau chiar mii de puncte de testare individuală din circuitele cu dispozitiv sub test.Forța de strângere poate să fie manuală prin prindere sau prin intermediul unui vacuum,astfel acționănd manual dispozitivul de test apăsarea se face de sus în jos spre patul cu cuie numit “pogo pins” vezi figura I.2, figura I.2.1 figura I.2.2 de mai jos. [3]

Figura I.2. dispozitivul sub test alfat pe pinuri pogo [4]

Figura I.2.1 testul cu patul cu cuie și dispozitivul sub test DUT [5]

Aceste pinuri ”pogo„ poate să fie pe diferite dimensiuni și lungime la fel și capătul lor poate să varieze după modul în care sunt aplicate spre cicuitul imprimat aflat în interiorului adaptorului de test .

Figura I.2.2 diferite tipuri de ace numit “pogo pins” folosit pentru

”DUT-Dispotivului subtest” [6]

Astfel dispozitivele sub test care au fost testate pe un pat cu cuie pot prezenta dovezi vizibile dupa procesului de testare adăncituri foarte mici de la vârfurile ascuțite ale acelor ”pogo pins„ pot fi de multe ori văzute în multe dintre conexiunile lipite ale circuitului imprimat PCB.

Deobicei fabricarea completă pentru un adaptor de test timpul necesar este de la patru până la șase săptămâni care sunt defapt de tip vid sau prin apăsare manuală.Avantajul adaptoarelor de test în vid este că oferă un semnal de citire mai bună dar pe de altă parte sunt scumpe și complexe de fabricat.Patul cu cuie sau adaptorul de test în general este utilizat împreună cu un dispozitiv de testare adică testul în circuit Adaptorul cu grile de 0.8 mm pentru cuie și punctul de test cu diamertul de 0.6 mm sunt realizate atăt teoretic cât și practic fără constucții speciale și costisitoare.În producția de masă punctul de test are un diametru de 1 mm sau mai mare utilizate mod normal pentru minimiza eșecurile de contact care duc la reducerea costurilor suplimentare ale recondiționării adaptoarelor. [3]

I.2.2 Avantajele testului în circuit:

Detectarea cu ușurință a defectelor de fabricație în cele mai multe cazuri problema apare la circuite imprimate acesta fiind datorare de procesele de manufacturare componente inserate incorect,,valoare componentei greșite, diode, tranzistoare și circuite integrate cu o orientare incorectă,scurtcircuit și circuite deschise.Aceste sunt foarte rapid și ușor de depistat utilizănd ICT ”In circuit test„ în timp ce testerul cu circuit verifică componentele,continuitate sau lipsa componentelor sau a integratelor, etc.Deobicei cănd se face inspecție vizuală aceste probleme se elimină.

Generarea programului este simplu un tester de circuit find foarte ușor de programat cu ajutorul fișierelor luate de la layout al PCB-ului pentru generarea programului necesar funcționării și măsurării corecte.

Rezultatele testerelor sunt ușor de interpretat deoarece sistemul va da un pavilion nodal special care are un scurt deschis, sau o componentă care este defectă,locația problemei în placă este foarte ușor de depistat și nu necesită aplicarea sau prezența altor persoane cu înaltă calificare. [7]

I.2.3 Dezavantajele testerului în circuit:

Adaptoarele de testare sunt scumpe, contruite în general din parți mecanice și necesită cabluri electrice și montaje mecanice pentru suportul circuitelor imprimate pe placă de suport iar acestea poate fi considerate costisitoare.

Adaptoarele de test sunt greu actualizate pentru că partea fixă este fixat la elementul mecanic cu probe sau cuie care sunt asemenea fixe mecanic orice schimbare acestora în funcție de tipul de placă folosit poate fi considerat costisitor.

Accesul pentru testare devine mai dificil din cauze că dimensiunile plăcilor devine tot mai mici astfel accesul la nodurile de test devine imposibil de accessat.Acest lucru face dificil testarea circuitelor. [7]

Acestă tehnică de testare a PCB-urilor este înlocuită treptat prin tehnici de scanare de frontieră ”Boundary Scan„ prin testare cu cuie din siliciu ”Silicon test nails„ având inspecție optică automată și construită cu un auto-test.Acest fapt apare din cauza procesului cauzate dimensiunilor reduse și lipsa spațiului pe circuitul imprimat astfel având lipsa punctelor de test ”test pads„.Cu toate acestea ICT-urile utilizate în producția de masă duce la eliminarea defectelor prin detectarea problemei înainte apariției de defect astfel evitând posibilitatea de a produce scrap adică resturi care se aruncă. [3]

I.3 Boudary scan test ”BST” JTAG

Boundary scan test este o metodă de testare interconectate cu linii de sârmă pe circuite imprimate sau sub blocuri în interiorul unui circuit intergrat.Scanare Boundary este de asemenea utilizat pe scară largă ca o metodă de depanare pentru a vedea starea de pini a circuitelor,măsurarea tensiunii, sau analizarea sub blocurilor în interiorul unui circuit integrat.

Joint Test Action Group (JTAG) a dezvoltat o specificație pentru testare prin Boundary scan care a fost standardizat în anul 1990 ca IEEE Std 1,149.1-1990.În anul 1994 un supliment care conține o descriere despre Boundary Scan Description Language (BSDL) a fost adăugată în care se descrie conținutul logic a scanerului Boundary compatibile cu standarul IEEE 1149.1.De atunci,acest standard a fost adoptat de companile dipozitivelor electronice peste întreaga lume. [8]

Arhitectura Boundary scan oferă un mijloc de a testa inclusiv grupuri logice,memorie,etc fără a utiliza fizic sonde de testare, iar această implică o adăugarea a cel puțin o celulă de încercare care este conectat la fiecare pin al dispozitivului și care pot suprascrie funcționalitatea aceluiași pin.Fiecare celulă de încercare poate fi programat prin JTAG pentru a conduce un semnal pe ac și astfel făcând urmăririea pe placă.Celula de la destinație de pe urmă va fi citit înapoi și verificarea faptului că placa este conectet în mod corespunzător între cele două conexiuni pini.În cazul în care linia este scurtcircuitat la un alt semnal sau linia este deschisă valoare semnalului corect nu se prezintă la pin-ul de destinație astfel indicând a defecțiune.[8]

În timpul testării semnalelor de intrare și de ieșire I/O semnalele intră și iese din chip prin celulele Boundary scan.Testele presubpune un număr de vectori de test,fiecare dintre ele compară niște semnale și apoi verifică dacă răspunsurile sunt conform așteptărilor.Celulele Boundary scan poate fi configurat pentru testare externă de interconectare între chipuri, instrucțiuni ”extest„ sau testare internă pentru logică în chip insturcțiuni fiind ”intest„. [5]

În aplicație dispoztiviele tipice care încorporează tehnologia Boundary scan includ standardele CPDL,FPGA,Microprocesoare,DSP,ASIC,Magistrale logice,PCI/PCIe etc.

Un număr de producători de dispozitive îmbrățișând tehnologia Boundary scan sunt următoarele:

Intel,Analog Devices,ARM.Freescale,NXP,ST,TI,Xilinx,Altera,Lattice,Broadcom și Actel.

În practică dispozitivele Boundary scan sunt dotate cu patru sau uneori cu cinci porturi de accese de testare prin semnale TAP ”Test acces port„ [9]

TCK (Test Clock)

TMS (Test Mode Select)

TDI (Test Data In)

TDO (Test Data Out)

TRST (Test Logic Reset) (opțional)

Pentru a simplifica infrastructura de testat într-un PCB este preferat de a conecta dispozitivele într-un lanț numit (daisy) format în serie,astfel încât TDO primul dispozitiv se conectează la următorul dispozitiv TDI și așa mai departe pentru a forma un așa numit lanț de scanare prezentată prin figura I.3. [9]

Figura I.3. Un lanț daisy pentru scanare și testarea prin TDO și TDI [9]

I.4 Testul cu sonda de zbor

Testul cu sonda de zbor (Flying probe) sunt sisteme de testare de tip probă adesea utilizat pentru testarea în producției de bază,la prototipuri și la plăci care au probleme de accesibilitate.Sondele de zbor utilizează sonde electro-mecanice controlate pentru a accesa componentele de pe circuitul imprimat PCA (Printed Circuit Assemblies).Frecvent utilizat pentru testarea componentelor analogice,analiza semnalelor analogice,și a scurt circuitelor sau circuitelor deschise.Acestea pot fi clasificate în sisteme de testare ICT sau ca analizoare de defecte în fabricație MDA (Manufacturing Defects Analyzers).Ele oferă o alternativă la tehnica cu patul de cuie ”Beds of nails” pentru conectarea componentelor pe circuite imprimate.Mișcarea de precizie a probelor de punct poate fi utilizat la standardele PLCC,SOIC,PGA,SSOP,QFP și altele,fără nici un fel de instalare costisitoare sau de programare necesară. [10]

Sondele de zbor sunt dezvoltate fără cost și este o metodă tehnică eficientă de testare și verificare a componentelor electronice spre deosebire de ICT – testare în circuit unde sunt necesare corpuri de testare costisitoare.Acest lucru elimină timpul de programare,costuri enorme și permite modificări de proiectare cu un simplu modificare de program de testare.

Sondele de zbor permit conectarea la punctele de testare care sunt dotate cu o cameră interioară pentru inspecție vizuală.Testul de pornire începe injectănd un semnal la diferite puncte de pe placă și detectarea semnalelor de ieșire la alte locații cum se vede în figura I.4.

Prin ace ale sondelor de zbor se pot accesa diferite componente direct sau prin intermediul punctelor de testare ”test points” astfel apare opțiunea care nu necesita puncte de teste rezultând o acoperire de test înbunătățită decât în cazurile cu paturi de cuie ” beds of nails”.Un aspect important este utilizare vias-urilor de pe placă ca și o referință pentru puncte de teste astfel rezultând că necesitate punctelor de test se reduc semnificativ.Această caracteristică este valoros în dispozitive portabile și mobile unde spațiul valorează rezultând miniaturizarea redimensionarea plăcilor.

Sonda de zbor are o metodă bună și de volum redus pentru circuitele imprimate datorită utilizării ușurinței de programare chiar și în zilele noastre cănd datorită creșterea complexității și densității componentelor sunt în creștere.Utilizănd această tehnologie oferă o soluție și costuri eficiente. [10]

I.4.1 Avantajele sondelor de zbor sunt următoarele:

Nici un cost suplimentar față de adaptoarele de test

Timpul de programare este foarte mică astfel în câteva zile utilizatorul poate verifica rapid proiectele lor

Modalitatea ușoara de detectarea scurtcircuitelor, circuite deschise, componente de valoare greșita , lipsa componentă ,polarităti greșite astfel eliminănd timpul de pierdere pentru detectare problemelor la ”Debug”

Schimbarea ușoară a revizilor de un tip la altul caz ce oferă avantaj fată de adaptoarele de test unde schimbarea necesită timp și costuri suplimentare.

Timpul de depanare este redusă la jumătate sau mai mult astfel sondele de test face toate testele necesare în cele mai multe defecte de fabricație.

Nu sunt necesare DFM (Data Messaging Efforts) mesagerie de date suplimentare pentru sondele de zbor astfel reducând timpul testului aplicat.

Sondele de zbor pot efectua teste de integritate a semnalelor pe plăcile populate cu componente electronice,testând pini fără legăturâ electrică, măsurând valoarea rezistenței și a capacității precum verficarea scurtcircuitelor și deschizăturile de pe bobină , diodele semiconductoare ,tranzistoare MOSFET,relee,tranformatoare etc.

Sondele de zbor pot fi realizate mai ieftin decăt în cazul adaptoarelor de test tradiționale menționat mai sus.Sundele au deobicei de la patru la opt capete de testare care se deplaseaza peste circuitul imprimat PCB cu o viteză de testare foarte rapidă.Sondele electrice situate pe fiecare cap face contact între dispozitivul de testare prin vias-uri sau prin conductoare de pe placă oferind acces secvențial la punctele de testare.Aceste sonde sunt controlate electromecanic cu precizia de căteva mils rezultând că sondele de zbor sunt categorizate în sistemul ICT (în circuitul de test) și MDA analizoare de defecte în fabricație.Foarte des utilizat și validat în linile de producție cu costuri datorită ciclului de timp oferint avănd numai avantaj față de proiectarea și construirea adaptoarelor de test tradiționale a paturilor cu cuie. [10]

Figura I.4. sondele de zbor în timp de testarea parametriilor unui chip [10]

CAPITOLUL II. FABRICANȚI DE ADAPTOARE DE TEST

II.1 Adaptor de test tip GPS cu prindere mecanică model WA-M-1200

Figura II.1 GPS-Adaptor de test cu prindere mecanică model WA-M-1200 [12]

Aplicații în care sunt utilizate aceste adaptoare cu prindere mecanică sunt FCT și ICT.

Specificații adaptorului cu prindere mecanică model WA-M-1200:

Adaptor de test cu unitate mică interschimbabilă și cu presiune mecanică paralelă

Dimensiunea exterioară: 200 x 250 x 190 mm

Zona maximă de lucru: 100 x 160 mm

Costuri mai reduse prin unitatea de schimbare

Finalizare individuala prin sistemul de asamblare

Interfață de conectare 2 sub-D-conectori (9-25 pol)

Dispozitiv de blocare cu magnet de ținere [12]

II.2 Adaptor de test pneumatică model WA-P-3000 tip GPS

Figura II.2 Adaptor de test pneumatică model WA-P-3000[13]

Specificații Adaptor de test pneumatică model WA-P-3000:

Unitate de schimbătoare pneumatică cu unitate de presiune mecanică

Nici un efort din cauza sistmului de acționare duală pneumatică la 24V

Unitate de presiune mecanică paralelă

Dimensiunile exterioare: 530 x 450 x 240mm

Extensibil la 384 de contacte

Semnal pentru începerea prin apăsarea în jos a unității de presiune

Costuri mai reduse prin unități interschimbabile

Schimbare rapidă a plăcii sondei și plăcii de împingere în jos

Verificarea poziției de contractare

Capacul poate fi deschis în timpul de depanare

Diverse accesorii [13]

II.3 Adaptor de test în vid model HP-70-11XGP tip GPS

Figura II.3 Adaptor de test în vid model HP-70-11XGP [14]

Specificații Adaptor de test în vid model HP-70-11XGP:

Dimensiunile exterioare: 480 x 460 x 100mm

Zona de lucru: 354 x 299 mm

Placă mutabilă confecționată din material ESD

Placa de sondă realizat din material G10 (15mm) – calitate GP

Placa de sonda realizat din material epoxidic (15mm) – calitate CP

Etanșare GPS ESD în camera de vid

Margini rotunjite (pentru o mai bună de preluare)

Mânere de prindere proiectate ergonomic

Scurgere ESD standard pentru probe

Serigrafie pe suprafață și pe partea inferioară a plăcii sondei

Extensive oferite pentru componente de testare Jet

Placa de vacuum 8mm

Probe-X în tehnologia fără prize [14]

II.4 Adaptor de test de înaltă frecvență tip ATX HF (High Frequency)

Aceste adaptoare poate să ruleze teste sofisticate speciale pentru sisteme de asamblu sensitive unde ecranarea fiabilă este necesară, fără interferențe de radiații dată de combinație emițător și receptor care sa afecteze mediul de producție.Adaptorul ATX HF este un pat cu sonde care este protejata complet atât deasupra cât și dedesubt de o cușcă Faraday din aluminiu,la fel și capacul de deschidere are o etanșare perfectă pentru frecvențe înalte.Conexiunile fiind realizate cu exteriorul prin conectori filtrate comunicând simultan după închiderea capacului de etanș.

Este un concept inovatoare și tehnologic superior la fel simplu și robust de mare încredere cu soluție funcțională pe baza unui set de standarde cu preț scăzut. [15]

Figura II.4 Adaptor de test de înaltă frecvență tip ATX HF (High Frequency) [15]

II.5 Adaptor de test de radio frecvență tip INGUN RF (Radio Frequency) model MA 2112/D/H/S-7

Aceste adaptaore de radio frecvență oferă un grad de calitate superioară carcasele de cupru care înconjoară kitul schimbabil sunt fabricate cu un nivel ridicat de precizie.Oferă

atenuare ecranată asigurănd astfel ca frecvențele radio compatibile cu placa foarte sensibilă împotriva interferenței din exterior dar de asemenea asigură o protecție operatorilor împotriva depășiri a cămpurilor de radio frecveță emise din interiorul adaptorului. [16]

Figura II.5 Adaptor de test de radio frecvență tip INGUN RF (Radio Frequency) model MA 2112/D/H/S-7 [16]

Specificații:

Conectare precisă și sigură

Măsurare în siguranță de semnale RF

Atenuare de ecranare remarcabilă în intervalul de RF până la 6 Ghz

Ecranare de radio frecvență împotriva interferențelor semnal extern

Protecție operatorilor împotriva depășirii undei radio frecvențe emise din interior

Contacte standardizate cu geometrie potrivită cu sonde Ingun RF cu transfer nedisipativ

Sistem de schimbare rapidă, fără post-reglare

Contactare cu o singură față sau pe ambele fețe

Disponibil cu sau fara o interfață internă

Conectori utilizați la semnale de radio frecvență:

Prin utilizarea componentei coaxiale la semnale de RF semnalul transferat paote să fie fără pierderi între camera de RF și exterior. În funcție de tipul de interfață de transfer utilizat se efectuează cu o impedanta de 50 Ω sau 75 Ω cu până la 18 GHz. [15]

Figura II.5.1 Conectori utilizați la semnale de radio frecvență cu o impedanta de 50 Ω sau 75 Ω [16]

Alimentarea la semnale digitale de joasă tensiune 24V

Pentru transferul semnalelor digitale de joasă tensiune, precum și transferul magistralei digitale cum ar fi de exemplu SPI sau I²C componente de transfer Sub-D, cu zgomot integrat se folosește filtre. Fiecare filtru integrat oferă o capacitate de 830 pF și asigură faptul că semnalele nedorite nu pot trece în zone ecranate. [16]

Figura II.5.2 componente de transfer Sub-D cu 25 poli cu filtre (830pF) [16]

CAPITOLUL III.PROIECTUL CU ADAPTOR DE TEST

III.1 Schema de circuit pentru comanda pompei

În figura III.1 se prezintă schema de circuit ce va fi testat în adaptorul de test PXI.

Figura III.1 Schema de circuit pentru comanda pompei

Schema de circuit pentru comanda pompei prezintă următoarele componente electronice:

T1 Transformator de rețea 230V/10V- 1,5VA

T2-Redresor în punte 40V-1A

K1 Releu de 230V-16A

K2 Releu de 230V-5A

K3,K4 Tranzistoare, 2 x BC337-25,45V-500mA

K5 regulator de tensiune 7805 având tensiunea de ieșire 5V

P1 Buzzer 12VDC

Conector cu 2 terminale pentru alimentare de 230V

Conector cu 3 terminale „40,41,42” pentru releu de comandă (normal închis / normal deschis)

Terminale pentru măsurarea tensiunii pe punctul de contact X5/6

Microcontroller-MC PIC16F505 8biți CMOS DIP14

C1 Condesator electrolitic Elko 470uF/≥35V(±20)

C2 Condensator de folie 100nF/≥63V(±10)

C3 Condensator tantal 4,7uF/≥35V(±20)

P2-LED BI-COLOR verde și roșu cu catod comun

R12 Diodă 1N4001/4007

R11 Diodă zener 5.1V/500Mw

R13 Diodă zener 30V/500mw

R7/8 Rezistor cu fir de metal, 0,5W/4,7kΩ ±1

R1 Rezistoare – 18kΩ

R2 Rezistoare – 12kΩ

R3,R4 Rezistoare – 4,7kΩ

R5,R6 Rezistoare – 100Ω

Figura III.2 Placa cu componentele electronice populate pentru comanda pompei

III.2 Testarea la tensiune înaltă HV

Pentru a începe testarea circuitului imprimat sunt urmate câteva pași de testare care sunt cerute de client.S-a cerut următoarele teste de HV- High Voltage și FCT- Testul Funcțional.În continuare va începe primul test de HV la tensiunea de 2500VAC timp de o secundă între terminale care va fi conectat cu o sârmă între 230V~ +230V~ +MOTOR -MOTOR și X5+X6+40+41+42 cu un curent de 5mA.Se va vedea în figura III.2.1 prezentată mai jos.

Figura III.2.1 Terminalele conectate între 230V~ +230V~ +MOTOR -MOTOR

și X5+X6+40+41+42

Astfel aparatul de test de tensiune înaltă-HV “ELABO 92-1G” cu care se va testa circuitul imprimat se prezintă în figura III.2.2

Figura III.2.2 aparatul de test de tensiune înaltă ELABO 92-1G

III.3 Testul funcțional și Inletul

Se începe cu testul funcțional FCT pentru care circuitul imprimat trebuie testat la o tensiunea mai mică decât tensiunea nominală 230V cu o toleranță (±10%) în cazul de față cu (-10%) tensiune va fi 198V și în caz contrar cu (+10%) adică cu o tensiune de 253V.

Organigrama cu figura III.3.1 este reprezentată pentru testul funcțional și funcționarea secvenței motorului prevăzut cu sirenă împreună cu leduri de culoarea verde și roșie.

Figura III.3.1 Organigrama pentru testarea secvenței și funcționalitatea motorului

Inletul este montat în adaptorul de test și folosit pentru suportul și testarea pcb-ului adică circuitului de comandă cu pompă care este prezentată în figura III.4 , dimensiunile adică lațimea de 270 mm cu înălțimea de 285 mm iar adăncimea fiind 90 de mm construit din material care să respecte protecția ESD.

Figura III.3.2 Inlet cu caracteristici mecanice și pinurile pogo cu coroană

În interiorul Inletului sunt deplasate pinurile pogo cu vârf de coroană iar pe deasupra există o placă suport nemetalic care ține pcb-ul astfel prin apăsarea verticală paraplelă de sus în jos a plăcii de suport. Acesta va face contact între circuitul imprimat și pinurile pogo cu suport mecanic cu scop de susținerea a pinurilor pogo pentru comanda circuitului pompei prezentată în figura III.3.3

Figura III.3.3 Inlet cu pinuri pogo făcând contact cu placa de circuit

În figurile de mai jos se prezintă pinurile pogo și conexiunia acestuia cu un fir de sârmă

Figura III.3.4 Inlet cu pinul pogo care face contact cu placa de circuit

Acest pin pogo este format din două secțiuni, prima secțiune avănd la capăt o formă de coroană și a doua secțiune are la capăt o tijă pe care se face înfășurarea sărmei iar secțiunea acestora fiind de 1mm prezentat în figura III.3.5.

Figura III.3.5 pinul pogo cu fir care face contact cu placa de circuit

Înfășurarea sârmei la capătul tijei al pinului pogo aceasta va face legătura între placa cu componente electrice și adaptrul de test astfel cablarea se face cu o unealtă specială concepută de compania „Ok Industries model WSU-30 M” cum se observă în figura de mai jos figura III.3.6.

Figura III.3.6 Ok Industries model WSU-30 M cu rol de înfășurarea sârmei [17]

Figura III.3.7 Ok Industries model WSU-30 M cu rol de înfășurarea sârmei

S-a văzut în figura de mai sus se observă că aceasta unealtă este extrem de importantă pentru cablarea sârmei pe pinurile pogo care va face legăturile cu conectorii prezentat mai jos.Secțiune sărmei cu izolație fiind de 0,63mm cu o lungime aproximativ de 20 cm.

Figura III.3.8 conexiunile între pogo pins și conectorii cu 48 poli și 64 poli

Figura III.3.9 conectorii cu 48 de poli și 64 de poli cu sârme înfășurate

Se prezintă în figura alăturată conectorii Harting Din 41612 cu 48 de poli și 64 de poli care face conexiunea cu adaptorul de test PXI.

Figura III.3.10 conectorii cu 48 de poli și 64 de poli . Conectorii Harting Din 41612 tip E tata și mama [18]

III.4 Adaptroul de test PXI

Figura III.4.1 adaptorul de test PXI

PXI este un adaptor de test cu prindere mecanică solidă așa cum se observă de pe figura mai sus.Aici se pune pcb-urile cu diferite componente electronice pentru testul funcțional FCT la fel și ICT.Pentru a începe testare se prinde de măner și se deschide adaptorul de test PXI pentru introudecere pcb-ului urmărind figura III.3.4.

Figura III.4.2 adaptorul de test PXI deschis

În interiroul adaptorului de test se află legătruile fizice pentru alimentarea adaptorului de test și conectarea la un calculator central PXI National Instruments pentru măsurarea

valorii care trebuie să coincidă cu valorile date de client, tot aici se va testa secvența făcută pentru circuitul cu comandă pentru pompă.

Figura III.4.3 interiorul adaptroului de test PXI

Partea din spate sunt plasați mai mulți conectori cu diferite poli ale adaptorului mecanic PXI.Se observa că în funcție de complexitatea pcb-ului testat se poate adăuga conectori cu 24 poli ,48 poli sau 64 poli la sloturile (locașe) goale.În figura III.4.3 sunt prezente conectorii X123,X120,X122,X202,X203,X206,X206,X207,X208,X209 care asigură comunicarea între adaptor de test PXI și calculatorul central PXI National Instruments.

Figura III.4.4 Spatele adaptorului cu conectorii de 24,48 sau 64 de poli

III.5.Cablarea adaptorului PXI cu conectorii Harting

Cablarea conectorului „Harting Din 41612” cu 64 de poli cu conectorii de la spatele adaptroului PXI cu conectorii X202 și X203 mai exact conectorul X202 pinul A1 va comunica cu pinul C32 de la „Harting Din 41612” cu 64 de poli iar conectorul X203 pinul C1 va cominca cu pinul C30 „Harting Din 41612”.Prin legătură electrică cu conectorul se obține infomația de la circuitul de comandă pentru pomă cu terminale X5 și X6 plasați pe circut ca și un punct de test.Astfel pinul 40 de la releul K2 de pe circuitul de comandă va primi alimentarea de 5V curent continuu.Aceasta comincănd cu conectorul X208 cu pinul C25 spre conectorul „Harting Din 41612” cu 64 de poli mai exact cu pinul C7,iar pinul 41 și 42 comincănd cu conectorul X208 cu pinul C1 și A1 avănd intrarea digitală la conectorul „Harting Din 41612” cu 64 de poli cu pinul A9 și cu pinul A10 la contactul K2 de pe schema de circuit.Punctul de test K5.1 de la stabilizatorul de tesiune având la intrare tensiunea în curenct continuu la 10V care fiind conectat la ieșirea conectorului X206 pinul A1 al adaptrului de test PXI spre conectorul „Harting Din 41612” cu 64 de poli mai exact pinul A13.Punctul de test K5.2 este masa regualtorului de tensiune aceasta făcând conexiune cu conectorul X207 prin pinul A1 și cu pinul A6 al conectorului „Harting Din 41612”.Iar K5.3 punctul de test este ieșirea regulatorului de tensiune cu 10V și aceasta realizează legătura cu conectorul X206 pinul A6 spre conectorul „Harting Din 41612” cu 64 de poli mai exact spre pinul A32 de pe inlet.Așa cum s-a amintit la începutul capitolului III al adaptorului mecanic PXI se va arată introducerea pcb-ului adică circuitul cu comandă pentru pompă văzând în figura III.4.4.

Figura III.5.1 Introducerea circuitului de comandă pentru pompă

În continuare placa alflându-se în interiorul adaptrului de test PXI prin apăsarea în jos adică perpendicular a mânerului mecanic operatorul este protejat de eventuale acidente cauzate de placă dacă acesta are probleme sau defecte tehnice în timpul testului sau a funcționării .

Figura III.5.2 circuitul introdus închis pregătit pentru testare

III.6 Alimentarea adaptorului de test PXI

Alimentarea adaptorului de test PXI este furnizat de sursă de alimentare programabilă „Hameg model HM7044” disponibil cu patru canale de ieșire separate.Această oferă a tensiune de la 0 la 32V cu un curent de la 0 la 3A maxim pe fiecare canal.Există posibilitatea conectării canalelor în parelel având un curent de 4 ori mai mare egală cu 12A, iar conectării canalelor în serie rezultă o tensiune de 4 orii mai mare decât cu cel de un singur canal care avea o tensiue maximă de 32V.Tensiunea maximă oferită de sursă cu patru canale legate în serie are 128V.Există posibilitatea reglării curentului maxim limitat la ieșire, ca protecție avănd o siguranță fuzibilă pentru fiecare canal de ieșire.Puterea maximă oferită la ieșirea sursei de alimentare programabilă poate ajunge la 384W iar puterea consumată poate atinge o valoare maximă de 530W find egală cu puterea maximă oferită la ieșire.Se prezintă mai jos figura III.4.6 sursă de alimentare programabilă „Hameg model HM7044”.

Figura III.6.1 sursă de alimentare programabilă Hameg model HM7044.

III.7 Prezentarea platformei în standul de testare (N.I. TestStand)

Utilizarea secvenței în programul Stand de testare oferit de la National Instruments necesită cunoșterea sistemului PXI produs de asemenea de compania National Instruments.Aceasta este o platformă robustă bazat pe platforma PC pentru sistemele de măsurare și de automatizare.Platforma PXI combină magistrala electrică PCI cu caracteristici modulare. [19]

PXI are performanță ridicată și în același timp o platfromă cu cost scăzut pentru aplicații cum ar fi monitorizarea procesului de test în fabricație,în industria auto aerospațială,militară etc.Ingineri din întreaga lume au făcut o trecere la PXI pentru simplu fapt care a dus la concluzia că aceste aparate de testare și de măsurare realizează o execuție de testare rapidă fapt ce este dată de sistemul de software cu transfer rapid astfel crescând productivitatea obținând costuri reduse dramatic. [19]

Se prezintă figura III.4.1 cu platforma PXI de la National Instruments cu diferite module dedicate și conectate pentru măsurare și achiziționarea datelor.Acestă platformă PXI de la National Instruments cu module realizează testul funcțional la care este subpus circuitul cu comandă pentru pompă.Funcționalitatea testului funcțional se cunoaște din capitole anterioare,astfel dacă placa a trecut prin acest proces de test atunci va urma testul ICT.

Figura III.7.1 platforma PXI de la National Instruments cu diferite module dedicate FCT

Acestă platformă PXI din figură III.4.1 face parte din testul funcțional-FCT conectat și comunicând prin adaptor de test PXI împreună cu circuitul de comandă pentru pompă astfel datele ce sunt colectate de platforma N.I. a trecut testul FCT.Acest modul pxi este extins adică pe lângă partea cu testeul funcțional mai există modulul cu partea de testare în circuit-ICT astfel pcb-ul sau placa prezentată în subcapitolul „Figura III.1 Schema de circuit pentru comanda pompei”.Se va arăta figura III.4.2 platforma PXI de la National Instruments dedicat pentru partea de testare in circuit ICT.

Figura III.7.2 platforma PXI de la National Instruments dedicat pentru ICT

III.8 Prezentarea secvenței de program în standul de test (N.I. TestStand)

Se prezintă secvența de program care rulează platforma cu testul de stand de la „National Instruments TestStand” sub programul editorul de secvență „Sequence Editor” realizată de aceeași compania compatibilă cu platforma test de stand adică „N.I. TestStand”.În acest program se realizează simulăriile reale ale adaptorului de test PXI defapt circuitul cu comandă pentru pompă.Programul principal este alcătuit din 3 pași explicat și în capitolul III din „Figura III.3.1 Organigrama pentru testarea secvenței și funcționalitatea motorului” înainte fiind aplicat testul funcțional care constă din setarea tensiunii de alimentare la 200V în curent alternativ pentru simularea fluctuației de la rețea ± 10% la fel testarea la valoarea maximă a fluctuației de tensiune adică la 250V în curent alternativ. Secvența de program al testului funcțional din capitolul III arată ca și în figura III.8.1.

În continuare se prezintă pasul 1 al secvenței de program în Figura III.8.2. Secvența de program pentru pasul 1 realizat în National Instumenst „N.I”. Contactul B1 se închide așteptând 0.5 secunde un înterval de timp în care contactul B1 se va închide.Se pornește sursa de alimentare timpul de încărcare fiind tot 0.5 secunde și se testează sursa de tensiune.Se măsoară tensiune pe K 5.1 adică terminalul 1 de la intrarea regulatorului de tensiune în limita timpului de 8 secunde la fel se măsoară dacă există tensiunea pe K 5.3 adică terminalul 3 de la reglatorul de tensiune în limita timpului de 4.9 secunde.Începe testarea motorului și măsurarea tensiunii pe motor la fel și testarea contactelor de la releul K2 citind datele digitale de intrare.Contactele 40 și 41 de la releul K2 sunt normal deschise, dar dacă contactele sunt închise testul va eșua adică va da (Fail) și se verifică problema iar cazul de față contactele sunt normal deschise deci urmează contactele 40 și 42 care sunt contacte normal închise testul este asemănător dacă contactele normal închise sunt deschise secvența de program va eșua adică (Fail) și verifică problema apărută și se remediază în cel mai scurt timp.

Urmează testarea la sirenă „Buzzerului P1” dacă este în starea închis adică (OFF) se va vedea un mesaj de avertizare în care se verfică existența sunetului și operatorul va da prin apăsarea butonului sau automat de la calculator trecerea probei a plăcii (Pass) totul acestea rulând interactiv prin software, deasemenea buzzerul este închis adică (OFF), dacă buzzerul este în starea pornită (ON) astfel rezultatul de test va da una eșuat (Fail).Se verfică ledul de culoarea verde având un mesaj de avertizare în care operatorul verifică existența lumini verde de la led dacă există atunci se închide sursa de alimentare dacă nu există lumină de la led operatorul acționănd interactiv cu programul rezultatul astfel rezulatutul de la pasul 1 a eșuat adicpă respins (Fail) și se remediază problema prin schimbarea componentelor electronice sau reprogramării integratului „PIC16F505” .Secvența de program pentru pasul 1 este afișat în figura III.8.2.

Figura III.8.1 Secvența de program pentru testul funcțional

Figura III.8.2. Secvența de program pentru pasul 1 realizat în standul de test (N.I.TestStand)

Pasul 2 secvența de program începe prin pornirea sursei de alimentare întrun interval de timp de 2 secunde urmând ca contactul B1 să fie starea deschisă în 0.4 secunde după care să fie starea închisă adică potniă în limita timpului de 1 secundă dacă această procedură s-a realizat începe testarea motorului prin măsurarea tensiunii pe motor. Se citește datele digitale de intrare de la releul K2 iar contactele 40 și 41 normal deschise sunt închise prin releul K2 astfel testul de la ICT va da de trecere adică (Pass) dată de la opertaor astfel urmând testarea contactelor 40 și 42 normal închise care sunt deschise prin releul K2 și va aparea un mesaj de avertizare în care operatorul acționează verificând sunetul de la sirenă „buzzerul P1” să fie în starea pornită (ON) și dacă are sunet la fel se verifică ledul dacă pornită și este de culoarea portocalie.Secvența de program pentru pasul 2 a rulat cu succes atunci urmează pasul 3,dacă nu una din secvențele explicate anterior va fi una de eșec se oprește testarea iar sistemul va opri automat fără acordea sau apăsarea vreun un buton de către operator. La această secvență se verifică circuitul cu comandă pentru motor evident prin verificarea optică linilor de conexiune de pe placă și lipirea acestora cu cositor a părților componente electronice.Se prezintă mai jos figura III.8.3 secvența de program pentru pasul 2.

Pasul 3 secvența de program începe prin deschiderea butonului B1 întrun interval de timp de 0.1 secundă după care se testează motorul măsurând tensiunea pe aceasta.Citind datele de pe intrarea de la releul K2 se testează contactele 40 și 41 care sunt normal deschise când releul K2 este deschis adică în starea (ON) asemănător se testeaza contactele 40 și 42 normal închise când starea releului K2 este închis adică (OFF).Apare un mesaj de avertizare în care operatorul acționează dacă sirena de la buzzerul P1 este în starea închis adică (OFF) astfel nu se aude sunetul de la sirenă buzzerul P1. Sirenă sau buzzerul fără sunet va trece la secvența următoare la testul cu starea ledului dacă este aprins (ON) și de culoare verde dacă totul a descurs fără probleme secvența de program s-a terminat va apara un mesaj de avertizare către operator secvențele cu pasul 1, 2 ,3 s-a terminat și circuitul cu comandă pentru motor a trecut prin secventele date din pasul 1 ,pasul 2 și din pasul aceasta fiind funcțional astfel se va trece la următoarele plăci rulând secvențele de la pașii prezentat mai sus.Se va vedea mai jos în figura III.8.4 în care sunt trecute secvențele de testarea a circuitului cu comandă pentru pompă evident arătând secvențele date de la pasul 1, pasul 2, pasul 3 prezentată anterior prin figuri.

Figura III.8.3 secvența de program pentru pasul 2 realizat în standul de test (N.I.TestStand)

–

Figura III.8.4 secvența de program pentru pasul 3 al circuitului cu comandă pentru pompă

CAPITOLUL IV.DEBUG CU CIRCUITUL CU COMANDĂ PENTRU POMPĂ ÎN STANDUL DE TEST (N.I. TESTSTAND)

În acest capitol IV fiind și ultima se prezintă partea de debug prin secvența utilizată în standul de test (TestStand) de la firma producător (National Instruments) cu module speciale concepute pentru testare și măsurarea parametrilor necesari unei plăci cu componente electronice, test prin având rol de deparea în caz în care există anumite probleme tehnice legate de adaptor de test utilizat și în cazul de față pentru testarea circuitului cu comandă pentru pompă.

În cazul de față partea cu debug începe prin testul funcțional împreună cu programul principal „Main” din standul de test (TestStand) de la National Instruments astfel amintit și în capitolul III „Proiectul cu adaptor de test” cu subcapitolul III.8 „Prezentarea secvenței de program N.I. TestStand”. Programul fiind simplu de urmărit prezentată în figura IV.1 TestStand editorul de secvență.

În editorul de secvență se poate vedea diferite secvențe pentru setarea tensiunii de alimentare de la rețeaua națională 230VAC de curent alternativ la o frecvența de 50 Hz astfel apelarea la prima secvență „Set low AC voltage” adică setarea valoriilor minime a tensiunii de la alimentare de c.a. se poate face în (Watch Expression) aici punănd valoarea 200VAC adică pentru testarea circuitului cu alimentare acestuia și verificarea dacă această valoare corespunde celor puse anterior.Asemănător la secvența „Set high AC voltage” setarea tesiunii de alimentare la o valoarea maximă în (Watch Expression) fiind de 250VAC curent alternativ defapt acest test corespunde fluctuației tensiunii de alimentare cu ±10%.Un aspect foarte împortant că fiecare secventă se poate testa în mod singur sau prin setarea așa numit (Breakpoint) punct de rupere folosit pentru fiecare secvență în parte pentru oprirea secvenței fără ca aceasta să fie testat.Așa dar aceste secvențe defapt sunt realizate prin pași amănunțite pentru testarea circuitului cu comandă pentru pompă care alcătuiesc un grup de secvențe în programul principal numit (Main) care defapt sunt folosite în comunicarea între diferite secvențe dar care face parte și în partea de debug fiind mai avantajos înlăturarea problemelor ce apare în timp folosind doar un singur program în standul de testare mai precis în editorul de secvență numit (TestStand Sequence Editor).

Există pe lângă funcții punct de rupere (Breakpoint) funcții setarea pasului următor (Set Next Step) această are rol de a seta de unde să înceapa o anumită secvență de exemplu dorim să executăm doar o secvență cu (Set high AC voltage) punem valoarea de 250V în (Watch Expression mai exact în Local Volatge Test) această secvență verifică valoarea pusă în urmărirea expresiei (Watch Expression) cu valoarea reală dată de pe circuitul cu comandă pentru pompă. Rularea pasului selectat (Run Selected Step) are rol selectarea secvențelor dorite și rularea acestora fiind folosit după aceasta funcția punctului de rupere (Breakpoint).Toate aceste funcții se găsesc în fereastra de execuție dar pe langă această mai există funcția cu modul de rulare (Run Mode).

Funcția cu modul de rulare (Run Mode) conține următoarele subfuncții de exemplu (Force Pass, Force Fail, Skip și ultimul find Normal) așadar se va explica fiecare funcție în parte ce rol are.

Force Pass – are rol de a nu rula secvența aleasă de programul TestStand sare peste pasul de testare și doar afișează interactiv că secvența a trecut.Acesta are rol de a trece la pasul următor eliminănd eroarea dată de pasul anterior.

Force Fail – are rol de a nu rula secvența aleasă de programul TestStand sare peste pasul de testare și doar afișează interactiv că secvența este eronată adică căzut.

Skip – de asemenea cu rol de a nu rula secvența aleasă de programul TestStand sărind peste secvența fără ca rezultatul testului să fie dat Pass.Aceasta are rol de a trece la pasul următor eliminănd eroarea dată de pasul anterior la fel ca și cum nu ar mai exista secvența aleasă de această funție.

Normal – Programul TestStand execută secvențele după cum urmează, fiind valoarea prestabilită adică modul corect de a executa programul.

Meniul depanare (debug) este defapt cel mai important punct pentru că aici este controlat pas cu pas secvențele date în programul TestStand.Prezintă următoarele puncte de acționare asupra secventei programului în standul de test (N.I. TestStand):
Resume – Continuă executarea secvenței când aceasta în starea anterioară a fost suspendată

Step Into – Această funcție fiind una dinre cele trei funcții mai importane avănd rolul de întra în pasul cu subsecvențe suspendate anterior prin apelarea către modulul TestStand .

Step Over – Funcția secundară dintre cele mai importante are rol de a executa pașii din subsecvență dată acolo unde este pus săgeata de pointer atunci cănd secvența este pus în Breakpoint.Dacă secvența apelează la o altă secvență atunci funcția „Step Over” va comanda executarea tuturor secvențelor după care va intra în starea„Breakpoint” urmat de secvența apelată anterior.

Step Out – Continuă executarea secvențelor curente pâna la sfârșit acestora adică până cănd apare o altă apelare către secvențe următoare.

Break – Suspendarea executării secvenței după executarea curente anterioarea.

Break All – Suspendarea tuturor execuției rulate.

Terminate – Termină procesul rulat și executat.

Terminate all – Temină toate procesele rulate și executate

Se prezintă figura IV.2 cu meniul cu fereastra de execuție și meniul debug.

Figura IV.1 TestStand editorul de secvență.

Figura IV.2 cu meniul cu fereastra de execuție și meniul debug.

Anexa1

UUT Report

Begin Sequence: MainSequence

Begin Sequence: Functional Test

Begin Sequence: Step 1

End Sequence: Step 1

Begin Sequence: Step 2

End Sequence: Step 2

Begin Sequence: Step 3

End Sequence: Step 3

Begin Sequence: Step 1

End Sequence: Step 1

Begin Sequence: Step 2

End Sequence: Step 2

Begin Sequence: Step 3

End Sequence: Step 3

End Sequence: Functional Test

End Sequence: MainSequence

End UUT Report

CONCLUZIE

În această lucrare de licentă din domeniul ingineriei electronice și telecomunicațiilor cu numele „Proiectarea unui adaptor de test utilizat pentru testarea plăcilor electronice” s-a urmărit prezentarea cât și proiectarea unui astfel de adaptor adică doar un anumit prototip special conceput spre testarea unui circuit pentru comanda unei pompă cu un microcontroller reprogramabilă și anume PIC16F505 de 8biți CMOS cu soclu DIP14 de asemenea folosit de compania multinațională Connectronics Romania.Evident existând și alte firme producătoare de adaptoare de test amintit în lucrarea de licență din capitolul II de exemplu ca și adaptor de test tip GPS cu prindere mecanică fabricat de producătorul GPS, Adaptor de test pneumatică producătorul fiind GPS, adaptor de test în vid, adaptor de test de înaltă frecvență tip ATX de la firma ATX, și ultimul fiind adaptor de test de radio frecvență tip INGUN Radio Frecvență cu precizie exceptională fiind o firmă cu calitate superioară față cele amentite anterior în cazul de față calitatea se referă la fiabiliatea lor în timp la uzura acestora excesivă în timpul lor de utilizare de către operatori la fel și spre testarea plăcilor în timpul testării.

În cazul de față s-a folosit adaptroul de test PXI de la firma producătoare National Instruments deoarece aceasta oferă a compatibilitate 100% cu standul de testare atăt pentru partea cu testul funcțional FCT cât și pe partea în circuitul de testare ICT pentru compania Connectronics Romania.

Un aspect foarte important fiind și metoda de programare ușoară de la compania N.I. producătoare de module și plăci cu integrate specializate preprogramate iar ulterior oferind o soluție ușoara a programării modulelor prin soft interactiv și ușor de înteles tuturor ingineriilor sau proiectanților spre o asemenea platformă cum este National Instruments cu platformă PC robustă pentru sistemele de măsurare și de automatizare.Astfel utilizarea acestora nu este una întâmplătoare concluzia apare după costuri reduse și simplitatea acestora, după procese repetate de testare și fiabiliatea lor după utilizarea în timp îndelungat în urmă unor procese rapide rămâne constant iar testarea cu aceste module oferă un randament și fiabilitatea exceptională în producție pentru plăcile electronice.

Programarea acestor module este de asemenea oferit de compania National Instruments prin program interfațat realizat în standul de testare cu programul de editorul de secvență spre modulele de prelucarea datelor de intrare și de ieșire,măsurarea tensiunilor,curenților,etc această este interactiv cu utilizatorul prin module PC.

Acestă lucrare de finalizare a fost susținută de compania Connectronics Romania Oradea.

BIBLIOGRAFIE

https://en.wikipedia.org/wiki/Functional_testing_(manufacturing)

http://www.bloomy.com/support/blog/circuit-vs-functional-test

https://en.wikipedia.org/wiki/In-circuit_test

http://sine.ni.com/cms/images/casestudies/cpeb.jpg?size

http://i.stack.imgur.com/JTl3F.gif

https://blog.adafruit.com/wp-content/uploads/2015/04/new-products-pogo-pins-10-packs.jpg

http://www.radio-electronics.com/info/t_and_m/ate/ict-in-circuit-test-tutorial.php

https://en.wikipedia.org/wiki/Boundary_scan

http://www.jtag.com/en/content/about-boundary-scan

http://www.nexlogic.com/pcb-testing/flying-probe-testing/

http://www.flyingtest.co.uk/communities/9/004/012/506/349//images/4614870287.jpg

http://www.gps-prueftechnik.de/EN/fixtures/mechanical-fixture/series-wa-m-12xx/

http://www.atx-hardware.de/index.php?en_vakuum-adapter

http://www.gps-prueftechnik.de/EN/fixtures/vacuum-fixture/agilent/?id=66

http://www.atx-hardware.de/index.php?en_hf-adapter

http://www.ingun.de/media/pdf/Produktinfos/ingun_testfixtures_ATS21xx-hf.pdf

http://www.alliedelec.com/ok-industries-wsu-30m/70176406/

http://www.harting.com/en/service/catalogues/downloads-and-order-connectivity-networks/din-41612-connectors/

http://sine.ni.com/np/app/main/p/ap/global/lang/ro/pg/1/sn/n24:PXI-FSLASH-CompactPCI/fmid/3/

Anexa 1

http://www.connectgroup.com/en/